- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriques; mesure des variables magnétiques
- G01R 31/27 - Test de dispositifs sans les extraire physiquement du circuit dont ils font partie, p.ex. compensation des effets dus aux éléments environnants
Détention brevets de la classe G01R 31/27
Brevets de cette classe: 203
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
10 |
| Tokyo Electron Limited | 11599 |
9 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
8 |
| Mitsubishi Electric Corporation | 43934 |
8 |
| Intel Corporation | 45621 |
7 |
| Delphi Technologies IP Limited | 1081 |
6 |
| Infineon Technologies AG | 8189 |
5 |
| Rohm Co., Ltd. | 5843 |
5 |
| Siemens AG | 24990 |
4 |
| STMicroelectronics (Crolles 2) SAS | 634 |
4 |
| International Business Machines Corporation | 60644 |
3 |
| Renesas Electronics Corporation | 6305 |
3 |
| ABB Schweiz AG | 6321 |
3 |
| Dialight Corporation | 233 |
3 |
| Teradyne, Inc. | 579 |
3 |
| Micron Technology, Inc. | 24960 |
2 |
| Robert Bosch GmbH | 40953 |
2 |
| Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 10902 |
2 |
| Industrial Technology Research Institute | 4898 |
2 |
| Seagate Technology LLC | 4228 |
2 |
| Autres propriétaires | 112 |